特許
J-GLOBAL ID:200903028019705045

電気化学デバイス用ガスシール部材及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 曾我 道照 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-013914
公開番号(公開出願番号):特開平5-205758
出願日: 1992年01月29日
公開日(公表日): 1993年08月13日
要約:
【要約】【目的】 本発明の目的は、固体高分子電解質膜の含水、乾燥によって劣化することのない電気化学デバイス用ガスシール部材及びその製造方法を提供することにある。【構成】 本発明に係る電気化学デバイス用ガスシール部材は、固体高分子電解質膜の表裏を多孔質基材によって挟み、更に、多孔質基材の外側表面を外側固体高分子電解質膜によって挟んだ構成とし、前記多孔質基材に固体高分子電解質膜と外側固体高分子電解質膜が多孔質基材の50体積%以上の割合で埋め込まれていることを特徴とし、多孔質基材への固体高分子電解質膜及び外側固体高分子電解質膜の埋め込みは、多孔質基材と固体高分子電解質膜並びに外側固体高分子電解質膜をホットプレスするか、溶媒に溶解させた液状固体高分子電解質を多孔質基材へ含浸し、乾燥するか、またはそれら両者により行われる。
請求項(抜粋):
固体高分子電解質膜の表裏を多孔質基材によって挟み、更に、多孔質基材の外側表面を外側固体高分子電解質膜によって挟んだ構成とし、前記多孔質基材に固体高分子電解質膜と外側固体高分子電解質膜が多孔質基材の50体積%以上の割合で埋め込まれていることを特徴とする電気化学デバイス用ガスシール部材。
IPC (2件):
H01M 8/02 ,  H01M 8/10

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