特許
J-GLOBAL ID：200903028046455093
ウェット塗膜厚測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 保男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-055556
公開番号（公開出願番号）：特開平6-265316
出願日： 1993年03月16日
公開日（公表日）： 1994年09月20日
要約：
【要約】【目的】 塗料を塗布した直後の塗装表面の垂直面や傾斜面においても非接触で適確に塗装膜厚を測定可能にする。【構成】 塗装直後の未乾燥塗装表面1の粗さを撮像部2で撮像した表面粗さ情報を画像処理部3にてパワースペクトル解析し、そのパワースペクトルデータから表面粗さ相当のパワースペクトル積分値および波長をパワースペクトル積分値演算部4にて算出し、膜厚演算部5はパワースペクトル解析値を使用した水平面および垂直面の平滑化理論式を用いて、パワースペクトル積分値、波長、塗料成分情報および塗装条件から水平面および垂直面の塗装膜厚を算出する。
請求項（抜粋）：
塗料を塗装した直後の未乾燥塗装表面の粗さを撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像した表面粗さ情報をパワースペクトル解析し、パワースペクトルデータとして出力するパワースペクトル解析手段と、このパワースペクトル解析手段からのパワースペクトルデータから表面粗さ相当のパワースペクトル積分値および波長を算出する演算手段と、前記塗料の成分情報および塗装条件を入力する入力手段と、パワースペクトル解析値を使用した水平面用または垂直面用の各平滑化理論式を用いて、前記パワースペクトル積分値、波長、前記塗料の成分情報および塗装条件に基づいて塗装膜厚を算出する塗装膜厚算出手段と、を有することを特徴とするウェット塗膜厚測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/06
, B05C 11/00
, G01B 21/08
