特許
J-GLOBAL ID：200903028056944203
光回路の特性調整方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-091261
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294756
出願日： 1994年04月28日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 3個以上のパスを有する光回路についても、短時間の内に高精度に光回路の特性を調整できる光回路の特性調整方法及びその装置を提供する。【構成】 特性調整対象となる光回路内の任意の2つのパス間の光路差よりも短いコヒーレント長(可干渉距離)を有する光源を使用した干渉計の一方の光路内に光回路を設置し、参照光路である他方の光路の光路長xを変化させて、各パスを伝搬した光波と参照光とのインターフェログラムV(x) を測定し(S1)、インターフェログラムV(x) からN個の孤立したビート信号Vk(x)(k=1,2,...,N)を抽出し(S2)、抽出したビート信号Vk(x)のフーリエ変換を計算し(S3)、フーリエ変換の位相から各パスを伝搬した光が受ける位相変化量を導出し(S4)、各パスでの位相変化量とその設計値との差が一定となるように光回路の各パスを構成する光導波路の屈折率を制御する。
請求項（抜粋）：
入出力ポート間に複数の合分波素子と該合分波素子間を結ぶ光導波路が配置され、該入出力ポート間の複数(N個とする)のパスを伝搬した光波の干渉波が出力ポートより取り出される光回路の特性調整方法において、前記光回路内の任意の2つのパス間の光路差よりも短いコヒーレント長(可干渉距離)を有する光源を使用した干渉計の一方の光路内に前記光回路を設置し、参照光路である他方の光路の光路長xを変化させて、各パスを伝搬した光波と前記参照光とのインターフェログラムV(x) を測定し、該インターフェログラムV(x) からN個の孤立したビート信号Vk(x)(k=1,2,...,N)を抽出し、該抽出したビート信号Vk(x)のフーリエ変換を計算し、該計算結果より得られた位相から各パスを伝搬した光が受ける位相変化量を導出する位相変化量測定工程と、前記位相変化量測定工程で求めた各パスでの位相変化量とその設計値との差が一定となるように前記光回路の各パスを構成する光導波路の屈折率を変化させる屈折率制御工程とを有することを特徴とする光回路の特性調整方法。
引用特許：
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