特許
J-GLOBAL ID:200903028091971485

薄膜基板のパターンカット構造

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山川 雅男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-039293
公開番号(公開出願番号):特開平5-235556
出願日: 1992年02月26日
公開日(公表日): 1993年09月10日
要約:
【要約】【目的】薄膜基板のパターンカット構造に係り、特にセラミック等の基板に各層毎にパターンを有する多層の絶縁層が形成された薄膜基板を、当該絶縁層の表面層に形成されたパターンを設計変更,または修復等によってレーザ光を用いてカットする薄膜基板のパターンカット構造に関し、基板の表面にパターンニングされた絶縁層が形成された薄膜基板のパターンをカットする場合、レーザ光のエネルギ量に左右されることなくパターンカットが行われるようにすることを目的とする。【構成】その表面に多層の絶縁層2を有し、該絶縁層2の表面に形成されたパターン10を必要に応じてレーザ光にてカットする薄膜基板のパターンカット構造において、前記パターン10が形成された層L3の下層L2に、当該パターン10の形成位置に対応してレーザ光の反射率の高い、または吸収率の高いダミーパターン4を形成するよう構成する。
請求項(抜粋):
その表面に多層の絶縁層(2)を有し、該絶縁層(2)の表面に形成されたパターン(10)を必要に応じてレーザ光にてカットする薄膜基板のパターンカット構造において、前記パターン(10)が形成された層(L3)の下層(L2)に、当該パターン(10)の形成位置に対応してレーザ光の反射率の高い、または吸収率の高いダミーパターン(4)を形成したことを特徴とする薄膜基板のパターンカット構造。
IPC (4件):
H05K 3/46 ,  B23K 26/00 ,  B23K 26/18 ,  H05K 3/22

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