特許

J-GLOBAL ID：200903028097133155

プリント基板の検査装置

発明者： 梶山 康一
出願人/特許権者： アドモンサイエンス株式会社
代理人 (1件)： 西森 正博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-100679
公開番号（公開出願番号）：特開平9-250989
出願日： 1996年03月15日
公開日（公表日）： 1997年09月22日
要約：

【要約】【課題】 スレッショルドレベルのように欠陥の有無を判定するための欠陥判定基準を、プリント基板表面の材質、スルーホールに応じて独立して設定することにより、検査時間を短くしながら、プリント基板の全面にわたって欠陥の有無を精度良く判定できる検査装置を提供する。【解決手段】 プリント基板5からの反射光又は透過光を受光するセンサー1と、センサー1からの検出信号を記憶手段2のマスター信号と比較してプリント基板5の欠陥の有無を判定する判定手段3とを備えると共に、さらに記憶手段2には、プリント基板5の表面の材質、スルーホールに応じて分類された複数のマスターパターン11〜14を記憶し、上記判定手段3の欠陥判定基準を、マスターパターン11〜14ごとに独立して設定する設定手段4を備えた。複数のマスターパターン11〜14は、正常なプリント基板5からの反射光又は透過光を受光したセンサー1、1’の出力信号を、スライスレベルに応じて分類して形成したものである。

請求項（抜粋）：

プリント基板(5)からの反射光又は透過光を受光するセンサー(1)と、センサー(1)からの検出信号を記憶手段(2)のマスター信号と比較してプリント基板(5)の欠陥の有無を判定する判定手段(3)とを備えると共に、さらに記憶手段(2)には、プリント基板(5)の表面の材質、スルーホール等に応じて分類された複数のマスターパターン(11〜14)を記憶し、上記判定手段(3)の欠陥判定基準を、マスターパターン(11〜14)ごとに独立して設定する設定手段(4)を備えたことを特徴とするプリント基板の検査装置。