特許

J-GLOBAL ID：200903028128794902

数値解析支援装置

発明者： 鶴来 昌樹 ,  根橋 敦志 ,  千葉 矩正 ,  西垣 一朗 ,  田中 克典
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-112701
公開番号（公開出願番号）：特開平6-325136
出願日： 1993年05月14日
公開日（公表日）： 1994年11月25日
要約：

【要約】【目的】より形状に正確な接触問題を、容易に少ない計算資源で解析することを可能にする。【構成】利用者は形状入力手段200により対話的に解析対象の形状を定義する。解析データ管理手段は形状データ260,解析データ270,解析結果280,新形状データ290を管理する。解析データ生成手段220は利用者が入力した解析条件とその手段が形状データ260から離散化したメッシュデータとを組み合わせて解析データ270を生成する。接触判定手段230は、形状データと解析データより、二つの物体の位置を計算し二つの物体間の干渉を判定する。干渉がある場合、干渉量を求め接触状態になるように補正をする。干渉の補正を解析データ270に反映させる。接触の効果が加えられた解析データを構造解析手段240に入力し解析計算を実行する。構造解析手段240は通常の構造解析プログラムでよい。

請求項（抜粋）：

計算機を用いて、複数の物体間の接触変形を計算する数値解析支援装置において、入力形状データおよび解析条件等から解析用に離散化されたメッシュデータを生成する手段と、前記メッシュデータおよび前記入力形状データとを管理する手段と、前記入力形状データを用いて物体間の接触を判定し、接触がある場合には接触の条件を前記メッシュデータの境界条件に変換する手段とを有することを特徴とする数値解析支援装置。