特許
J-GLOBAL ID：200903028176863215

光画像計測装置及びそれを制御するプログラム

発明者：
弓掛 和彦

弓掛 和彦 について

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西尾 豊

西尾 豊 について

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岡田 浩昭

岡田 浩昭 について

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木川 勉

木川 勉 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-109029
公開番号（公開出願番号）：特開2008-267892
出願日： 2007年04月18日
公開日（公表日）： 2008年11月06日
要約：
【課題】被測定物体の注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる光画像計測装置を提供する。【解決手段】眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRを重畳させて干渉光LCを生成して検出し、その検出結果を基に眼底EfのOCT画像を形成する光画像計測装置である。眼底観察装置1は、眼底Efに対して信号光LSを走査する走査ユニット141と、信号光LSの一連の走査を行うときに、走査ユニット141を制御して走査間隔を変更させつつ信号光LSを走査させる制御部210とを備えている。それにより、注目部位については小さな走査間隔で高精度の画像を取得でき、他の部位については大きな走査間隔で走査時間を短縮できる。したがって、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、 前記生成された干渉光を検出する検出手段と、 前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、 を有する光画像計測装置であって、 前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、 信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段と、 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/35 ,  A61B 3/12
FI (3件)：
G01N21/17 620 ,  G01N21/35 Z ,  A61B3/12 E
Fターム (17件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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