特許

J-GLOBAL ID：200903028185939690

ICテスタ

発明者： 小浦 勇 ,  谷村 大輔
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-306480
公開番号（公開出願番号）：特開2004-144490
出願日： 2002年10月22日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：

【課題】校正用の高精度A/Dコンバータを用いることなく、高精度に校正が行えるICテスタを実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。本装置は、被試験対象に与える試験信号を出力する出力D/Aコンバータと、この出力D/Aコンバータの試験信号を校正する少なくとも1つの校正D/Aコンバータと、出力D/Aコンバータの出力と校正D/Aコンバータの出力とを選択する選択部と、この選択部の出力を入力する校正A/Dコンバータとを有し、校正A/Dコンバータにより、出力D/Aコンバータ、校正D/Aコンバータを校正することを特徴とする装置である。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被試験対象を試験するICテスタにおいて、 前記被試験対象に与える試験信号を出力する出力D/Aコンバータと、 この出力D/Aコンバータの試験信号を校正する少なくとも1つの校正D/Aコンバータと、 前記出力D/Aコンバータの出力と校正D/Aコンバータの出力とを選択する選択部と、 この選択部の出力を入力する校正A/Dコンバータと を有し、前記校正A/Dコンバータにより、前記出力D/Aコンバータ、前記校正D/Aコンバータを校正することを特徴とするICテスタ。

IPC (3件)：

G01R35/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/316

FI (3件)：

G01R35/00 L ,  G01R31/28 M ,  G01R31/28 C

Fターム (6件)：

2G132AC03 ,  2G132AD01 ,  2G132AE08 ,  2G132AE22 ,  2G132AL15 ,  2G132AL35