特許

J-GLOBAL ID：200903028190865646

光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置

発明者： 堀田 宏之 ,  酒井 義彦 ,  蒔田 聖吾 ,  伊藤 久夫
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 正美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-133266
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326059
出願日： 1998年05月15日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 測定対象物の変動に影響されない高精度の測定を行うことができるとともに、測定装置を薄型かつ安価に構成できるようにする。【解決手段】 光源41からの光を、紙面37a上の反射領域42に照射し、反射領域42で反射(散乱または拡散を含む)した光を、さらにミラー43で反射させる。ミラー43の焦点位置Fを含む面内に、反射領域42で反射し、さらにミラー43で反射した光のうちの任意の一部の領域である特定領域を設定して、この特定領域を通過する光のみをすべて、光電変換素子44で受光する。この光電変換素子44の受光出力から、紙面37a上に形成された画像の濃度を測定する。特定領域を開口とし、または特定領域の位置に集光レンズを配置して、開口または集光レンズを透過した光を光電変換素子で受光するようにしてもよい。

請求項（抜粋）：

互いに相対位置が一定となるように設置した光源、ミラーおよび光電変換素子を用い、前記光源からの光を測定対象物に照射し、この測定対象物からの反射光を前記ミラーを介して前記光電変換素子で受光し、この光電変換素子の受光出力から、前記測定対象物に関する特性を測定する方法において、前記ミラーの焦点位置を含む面内に、前記測定対象物で反射し、さらに前記ミラーで反射した光のうちの任意の一部の領域である特定領域を設定して、この特定領域を通過する光のみをすべて前記光電変換素子で受光し、この光電変換素子が受光した総光量を、この光電変換素子の出力とすることを特徴とする光学測定方法。

IPC (4件)：

G01J 3/50 ,  B41J 29/46 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/47

FI (4件)：

G01J 3/50 ,  B41J 29/46 C ,  G01N 21/27 B ,  G01N 21/47 E