特許

J-GLOBAL ID：200903028203884939

粒度検出装置及び方法

発明者： 八木 武人 ,  山口 滋
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 堀田 実 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-336553
公開番号（公開出願番号）：特開平10-176908
出願日： 1996年12月17日
公開日（公表日）： 1998年06月30日
要約：

【要約】【課題】 高炉炉頂面のように、高温下で操業されかつ内部に多くの光散乱媒体がある環境下で、粒度偏析が測定でき、操業へのフィードバックがかけられる粒度検出装置及び方法を提供する。【解決手段】 一定の基準長Lを隔てた投光点Aと受光点Bからレーザビーム5を投光/受光し、基準長Lに対する投光角αと受光角βとから被測定面3の基準長Lからの垂直高さHと投光位置からの水平距離Aとを演算し、更に、投光角αを変化させて被測定面3を走査して散乱光の強度が低下する死角ピッチΔαを検出し、この死角ピッチΔαから粒子の粒径Dを演算する。

請求項（抜粋）：

被測定面にレーザビームを投光するビーム投光装置と、被測定面の投光位置からのレーザビームの散乱光を受光するビーム受光装置と、を備え、前記ビーム投光装置の投光点とビーム受光装置の受光点は、一定の基準長Lを隔てており、更に被測定面演算装置を備え、該被測定面演算装置により、基準長Lに対する投光角αと受光角βとから被測定面の基準長Lからの垂直高さHと投光位置からの水平距離Cとを演算し、更に、投光角αを変化させて被測定面を走査して散乱光の強度が低下する死角ピッチΔαを検出し、該死角ピッチΔαから粒子の粒径Dを演算する、ことを特徴とする粒度検出装置。