特許

J-GLOBAL ID：200903028221027695

半導体集積回路装置

発明者： 高島 敏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-326805
公開番号（公開出願番号）：特開2000-150799
出願日： 1998年11月17日
公開日（公表日）： 2000年05月30日
要約：

【要約】【課題】 内部基準電圧のトリミング精度をより一層向上させる。【解決手段】 電圧比較判定回路20は内部基準電源回路10によって生成された内部基準電圧VREFとボンディングパッド16に外部印加された設定電圧VEとを比較し、内部基準電圧VREFのトリミングの要否を判定する。ヒューズ選択回路30は電圧比較判定回路20の判定信号TP,TNを受けて、内部基準電源回路10の擬似ヒューズ素子FP0〜FP2,FN0〜FN2のオンオフを設定する。これにより、内部基準電圧のトリミングにおいて、外部測定装置を用いた測定が不要になり、かつ、予め作成したトリミング表の利用も不要になる。したがって、外部測定装置の測定精度や製造ばらつきに依存しない高精度かつ安定したトリミングが実現される。

請求項（抜粋）：

内部電源電圧の基準となる内部基準電圧を生成する内部基準電源回路と、外部から電圧が印加可能な電圧印加部と、前記電圧印加部に印加された設定電圧と前記内部基準電圧とを比較し、この比較結果を基にして、前記内部基準電圧のトリミングの要否を判定する電圧比較判定回路とを備えている半導体集積回路装置。

IPC (3件)：

H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  G05F 1/10 301

FI (2件)：

H01L 27/04 B ,  G05F 1/10 301 A

Fターム (20件)：

5F038AV06 ,  5F038AV08 ,  5F038AV13 ,  5F038BB04 ,  5F038BB07 ,  5F038CD16 ,  5F038DT02 ,  5F038DT08 ,  5F038DT17 ,  5F038DT18 ,  5F038EZ20 ,  5H410BB04 ,  5H410CC02 ,  5H410DD02 ,  5H410EA11 ,  5H410EB37 ,  5H410FF03 ,  5H410FF25 ,  5H410GG02 ,  5H410JJ05