特許
J-GLOBAL ID：200903028229033341
X線分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
塩野入 章夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-105004
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296950
出願日： 1992年04月24日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：
【要約】【目的】 X線回折の同定分析あるいは蛍光X線分析における定量分析において、分析に必要な元素情報あるいは化合物データをオペレータの手操作による入力無しに自動的に入力することができるX線分析装置を提供する。【構成】 蛍光X線分析装置1のデータ処理部2とX線回折装置3のデータ処理部4をオンラインで接続し、蛍光X線分析装置1の元素分析データをX線回折装置3へ送り保存し、X線回折装置3のによる分析結果から同定分析を行う際に自動的にこの元素分析データを用いる。また、X線回折装置3の同定分析結果を蛍光X線分析装置1のFP定量計算時に自動的に用いる。
請求項（抜粋）：
X線分析装置において、(a)試料の元素分析データを得る蛍光X線分析装置と、(b)X線回折装置と、(c)前記蛍光X線分析装置及び前記X線回折装置の出力を記憶する記憶手段とからなり、(d)前記X線回折装置の分析データと記憶されている前記元素分析データを用いて、試料の同定分析を行うことを特徴とするX線分析装置。
引用特許：
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