特許

J-GLOBAL ID：200903028230148748

X線発生装置およびこの装置を用いたX線CTスキャナ

発明者： 津雪 昌快
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-097191
公開番号（公開出願番号）：特開平8-293394
出願日： 1995年04月21日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：

【要約】【目的】被検体自体をスライス方向に移動させなくても、スライス方向のスキャンを可能にするとともに、ガントリの奥行き方向のサイズを小形化させる。【構成】被検体Pを置く診断用空間11Aの周りに配置され、且つ電子ビーム照射用の二次元照射域を有して診断用空間11Aの中心軸の周りを半周に亘って覆うように湾曲させたX線被曝用ターゲット201と、その二次元照射域を斜めに臨む中心軸周りの半円周上の複数の位置に各々配設した複数の電子銃202A〜202Gと、複数の電子銃202A〜202Gを選択的に切り換えて駆動させる手段と、複数の電子銃202A〜202Gのそれぞれからの電子ビームをターゲットの二次元照射領域に対してその周方向の各割当領域毎に周方向にスキャンする手段と、複数の電子銃202A〜202Gのそれぞれからの電子ビームをターゲットの二次元照射領域に対して中心軸方向にずらした位置に偏向する手段とを備える。

請求項（抜粋）：

被検体を置く診断用空間の周りに配置され、且つ電子ビーム照射用の二次元照射域を有して当該診断用空間の中心軸の周りを少なくとも半周に亘って覆うように湾曲させたX線被曝用ターゲットと、このターゲットの二次元照射域を斜めに臨む前記中心軸周りの少なくとも半円周上の複数の位置に各々配設した複数の電子銃と、を備えたX線発生装置。

IPC (3件)：

H05G 1/30 ,  A61B 6/03 320 ,  H05G 1/00

FI (3件)：

H05G 1/30 G ,  A61B 6/03 320 D ,  H05G 1/00 D