特許

J-GLOBAL ID：200903028235878701

劣化診断システム

発明者： 竹澤 由高 ,  小山 徹 ,  赤坂 伸一 ,  宮 寿一 ,  下寺 誠
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立ビルシステムサービス
代理人 (1件)： 富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-147937
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015131
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【構成】 被測定物pの反射率RLを、2種類の波長(L1,L2)について測定し、光反射損失AL,光反射損失差ΔAL1L2を求める(数8参照)。光透過率が50%以上の被測定物pはその厚さtとして実際の値を採用する。光透過率が50%以下の場合はt=1とする。求めたΔAL1L2を、別途求めた該被測定物pの劣化度を示す換算時間と上記ΔAL1L2との間の関係を示すデータと比較して診断する。【数8】【効果】 透明度の高い材料について、表面の凹凸,汚損等の影響を受けず、また機器を稼働させたままで劣化診断ができる。

請求項（抜粋）：

被測定物の劣化度を診断する劣化診断システムにおいて、少なくとも2種類の波長(L1,L2)の光それぞれに対しての被測定物の反射率RLを求める反射率測定手段と、少なくとも、被測定物の厚さの入力を受け付ける入力手段と、上記反射率測定手段の求めた反射率RLと、上記入力手段の受付た被測定物の厚さとを用いて、下記数1および数2で定義される光反射損失差ΔAL1L2を演算し、該光反射損失差ΔAL1L2に基づいて当被測定物の劣化の度合いを診断する劣化度演算手段と、【数1】AL=-(10/t)・log(RL/100)AL:光反射損失(dB/mm)RL:波長L(nm)の光に対する被測定物の反射率(%)t:被測定物の厚み(mm)【数2】ΔAL1L2=AL1-AL2但し、(L1L1L2:光反射損失差(dB/mm)を有すること特徴とする劣化診断システム。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 33/44