特許

J-GLOBAL ID：200903028274040855

タッチパネルシステムおよび電子機器

発明者： 佐藤 訓之
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 柏木 慎史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-080772
公開番号（公開出願番号）：特開2001-265531
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月28日
要約：

【要約】【課題】 タッチパネル上のxy座標を求める演算の処理速度を高速化する。【解決手段】 アナログスイッチ12〜16の切り換えを行って、各抵抗膜3,4における基準となる電位を測定する。基準電位の値はRAM52に記憶する。そして、アナログスイッチ12〜16の切り換えを行って、タッチパネル2上の押圧がなされた位置の座標情報となる電位を測定する。RAM52に記憶されている基準となる電位を用い、座標情報となる電位から、タッチパネル2上の押圧がなされた位置のxy座標を演算により求める。1度測定された基準となる電位は、複数回のxy座標の演算に用いる。

請求項（抜粋）：

線形特性の抵抗値を示す1対の抵抗膜を重ね合わせたパネルで、パネル面に対して押圧がされたときは前記両抵抗膜が接触し押圧されていないときは接触となることが可能なタッチパネルと、前記一方の抵抗膜には前記パネル面のx座標方向に通電し、また、前記他方の抵抗膜には前記パネル面のy座標方向に通電する電源と、この前記各抵抗膜への前記通電の態様を切り換えるスイッチと、前記各抵抗膜の所定位置での電位を測定する電圧センサと、前記切り換えを行って前記各抵抗膜における基準となる電位を前記電圧センサで測定する基準電位測定手段と、この基準電位の値を記憶する記憶手段と、前記切り換えを行って前記押圧がなされた位置の座標情報となる電位を前記電圧センサで測定する座標測定手段と、前記記憶手段に記憶されている基準となる電位を用い前記座標測定手段で測定された前記座標情報となる電位から前記押圧がなされた位置の前記パネル面上でのxy座標を演算により求める座標演算手段と、を備えていて、前記座標演算手段は、前記基準電位測定手段で1度測定された前記基準となる電位を複数回の前記xy座標の演算に用いるものであるタッチパネルシステム。

IPC (2件)：

G06F 3/033 360 ,  G06F 3/03 320

FI (2件)：

G06F 3/033 360 H ,  G06F 3/03 320 F

Fターム (18件)：

5B068AA02 ,  5B068AA04 ,  5B068BB06 ,  5B068BD20 ,  5B068BE08 ,  5B068BE12 ,  5B068CC12 ,  5B068CD06 ,  5B068DD13 ,  5B068DE01 ,  5B087AA01 ,  5B087AA02 ,  5B087AC02 ,  5B087AD01 ,  5B087CC12 ,  5B087CC16 ,  5B087CC26 ,  5B087CC37