特許
J-GLOBAL ID:200903028274218085
表面温度測定方法および表面温度測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
矢野 寿一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-138399
公開番号(公開出願番号):特開2008-292324
出願日: 2007年05月24日
公開日(公表日): 2008年12月04日
要約:
【課題】波長帯の異なる複数種類の赤外線が検出されることで行われる対象物の表面温度の測定に際し、表面状態の変化に起因して生じる測定誤差を低減することができ、測定精度の向上を図ることができる表面温度測定方法を提供すること。【解決手段】表面温度測定方法であって、金型キャビティ面2aから放射される赤外線のうち、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度分布を検出する赤外線分布検出工程と、前記分布の各要素について、計測温度(見かけ温度)を測定温度(黒体温度)に変換する温度変換工程と、放射率一定の仮定下、前記測定温度に基づいて金型キャビティ面2aの温度(表面温度)を算出する表面温度算出工程と、前記測定温度および前記表面温度に基づき、放射率および放射率比を算出する放射率比算出工程と、前記放射率比算出工程により算出された放射率比を用い、前記測定温度に基づいて前記表面温度を再算出する表面温度再算出工程とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物の表面から放射される赤外線のうち、波長帯が異なる複数種類の赤外線の強度分布を検出する赤外線分布検出工程と、
前記赤外線の強度分布の各要素について、前記赤外線分布検出工程により検出された前記複数種類の赤外線の強度から計測温度を算出し、この算出した計測温度を、前記対象物が黒体である場合に対応する測定温度として変換する温度変換工程と、
前記複数種類の赤外線の各波長帯について一定と仮定した前記対象物についての放射率を用い、前記温度変換工程により得られた前記各波長帯に対応する前記測定温度に基づいて前記対象物の表面温度を算出する表面温度算出工程と、
前記温度変換工程により得られた前記各波長帯に対応する前記測定温度および前記表面温度算出工程により算出された前記表面温度に基づき、前記各波長帯に対応する前記対象物についての放射率を算出し、これらの算出した放射率から、前記各波長帯に対応する前記対象物について放射率同士の比である放射率比を算出する放射率比算出工程と、
前記放射率比算出工程により算出された前記放射率比を用い、前記温度変換工程により得られた前記各波長帯に対応する前記測定温度に基づいて前記表面温度を再算出する表面温度再算出工程と、
を備える表面温度測定方法。
IPC (3件):
G01J 5/48
, G01J 5/60
, G01J 5/00
FI (3件):
G01J5/48 A
, G01J5/60 A
, G01J5/00 B
Fターム (7件):
2G066AA04
, 2G066AA15
, 2G066AB06
, 2G066AC11
, 2G066BA13
, 2G066BC12
, 2G066CA02
引用特許:
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