特許
J-GLOBAL ID：200903028276698190
プリント基板はんだ付け検査方法および検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-150568
公開番号（公開出願番号）：特開平5-026636
出願日： 1991年06月21日
公開日（公表日）： 1993年02月02日
要約：
【要約】【目的】プリント基板のはんだのみの2値画像を得ることにより、高精度かつ迅速にはんだの外観を検査する検査方法および装置の提供する。【構成】プリント基板上のはんだを外観検査する方法において、プリント基板を波長の異なる複数の照明で照射し、撮影装置で撮影し、得られる複数のプリント基板画像を、画像間演算し、プリント基板のはんだのみの2値画像を得ることにより、はんだの外観を検査することを特徴とするプリント基板はんだ付け検査方法。
請求項（抜粋）：
はんだと、外観がはんだと似ている外観類似要素と、背景とが表われているプリント基板について、はんだの外観を検査する場合において、上記プリント基板を照明し、はんだおよび外観類似要素からの放射光を受光して第1のプリント基板画像を生成し、上記プリント基板を照明し、はんだ以外の部分からの放射光を受光して第2のプリント基板画像を生成し、上記第1のプリント基板画像と第2のプリント基板画像とから両者に共通ではない画像部分を除去して第3のプリント基板画像を得、この第3のプリント基板画像と上記第1のプリント基板画像とから両者に共通な画像部分を除去して、はんだの部分は画像要素として含まれるが外観類似要素の部分は画像要素として含まれない、第4のプリント基板画像を得て、この第4のプリント基板画像を用いて、外観検査を行うことを特徴とする、プリント基板はんだ付け検査方法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, H05K 3/34
