特許

J-GLOBAL ID：200903028290870647

自動化学分析装置

発明者： 池田 智子 ,  横瀬 泰三 ,  七字 優 ,  菅原 研之
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-258493
公開番号（公開出願番号）：特開平9-101311
出願日： 1995年10月05日
公開日（公表日）： 1997年04月15日
要約：

【要約】【課題】測光系にまつわる不具合な測定値に対する原因究明から装置回復に至るまでに要した多大の労費時間をなくし、検査結果の遅れ防止を図ると共に、測光精度の信頼性向上を図る。【解決手段】複数のサンプルカップ1が架設できるサンプルディスク2,試料を分取するサンプリング機構4,複数の試薬分注を行う試薬ピペッティング機構5a,5b,試薬ディスク6a,6b,複数の反応容器を保持した反応ディスク7,撹拌機構8a,8b,反応容器洗浄機構9,光度計10,機構系全体の制御とデータ処理を行う中央処理装置11から成る。

請求項（抜粋）：

サンプルディスクに保持した複数のサンプルカップから被検体を所定量分取するサンプリング機構と、前記被検体の測定物質と反応させるための反応試薬を分注する試薬ピペッティング機構と、直接測光用反応容器を備えた多波長光度計,濃度演算機能から成る自動化学分析装置において、前記直接測光用反応容器に前記被検体の測定とは無関係な測光精度診断用反応容器を複数個特定し、上前反応容器に自動注入した精製水を特定の二波長でかつ装置の有する全ての測光ポイントで多重測光し、かつそれらの吸光度を統計処理した値と予め設定した許容値との比較判定を行う機能を設け、測光精度を定期的に診断しながら分析することを特徴とする自動化学分析装置。