超音波探傷方法及び装置

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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-240909
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083813
出願日： 1997年09月05日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】針状欠陥のように一方向に長い欠陥を検出する場合、欠陥の長軸方向と表面の間の角度が大きくなると、超音波を表面に対して垂直に入射しても欠陥エコーを検出することが難しく、表面エコーをトリガとして欠陥ゲートを作成し欠陥エコーを抽出する方法では、欠陥エコーを検出することができない場合がある。【解決手段】検査体表面と異なる角度をなす線状欠陥に対し、検査体表面と線状欠陥の両方からエコーを検出できるような超音波照射角度データを予め設定しておき、被検査体の形状データと検査対象欠陥が表面となす角度データとをもとに、超音波探蝕子を常に両方のエコーが得られるように姿勢制御しながら被検査体表面に沿って走査させる。

請求項（抜粋）：

表面エコーをトリガとして所定探傷深さに相当する欠陥ゲートを作成し、この間で欠陥エコーを検出して欠陥検出を行う超音波探傷方法において、検査体表面と異なる角度をなす線状欠陥に対し、検査体表面と線状欠陥の両方からエコーを検出できるような超音波照射角度データを予め設定しておき、被検査体の形状データと検査対象欠陥が表面となす角度データとをもとに、超音波探蝕子を常に両方のエコーが得られるように姿勢制御しながら被検査体表面に沿って走査させることを特徴とする超音波探傷方法。

IPC (3件)：

G01N 29/04 501 , G01B 17/00 , G01N 29/10 506

FI (3件)：

G01N 29/04 501 , G01B 17/00 Z , G01N 29/10 506

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平1-292248
特開昭55-116251
特開平3-215739

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