特許
J-GLOBAL ID：200903028387480835
プリント基板の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-196270
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018436
出願日： 1992年06月29日
公開日（公表日）： 1994年01月25日
要約：
【要約】【目的】 大きな記憶容量なしで、スルーホールの近傍における欠陥の検出を正しく行う。【構成】 基準とすべきプリント基板1のパターン画像信号PSとホール画像信号HSの論理和を演算して得られる基準画像信号MSと、ホール画像信号HSの画素密度を低くした拡大ホール画像信号EHSとの論理積を演算して得られる禁止領域画像信号FSを、比較検査部21での比較検査における禁止領域の設定に用いる。【効果】 禁止領域メモリ19に大きな記憶容量を必要とせずに、スルーホール4の近傍における欠陥を見逃すことがない。
請求項（抜粋）：
基準とすべき第1のプリント基板の画像と検査すべき第2のプリント基板の画像とを比較することにより、前記第2のプリント基板が有する配線パターンにおける欠陥を検出する、プリント基板の検査装置であって、(a)前記第1のプリント基板の画像を読み取って、当該第1のプリント基板が有する配線パターンの画像を表現し、画素単位で2値信号を有する第1のパターン画像信号と、前記第1のプリント基板が有するスルーホールの画像を表現し、前記画素単位で2値信号を有する第1のホール画像信号と、を得るとともに、前記第2のプリント基板の画像を読み取って、当該第2のプリント基板が有する配線パターンの画像を表現し、前記画素単位で2値信号を有する第2のパターン画像信号と、前記第2のプリント基板が有するスルーホールの画像を表現し、前記画素単位で2値信号を有する第2のホール画像信号と、を得る画像読取手段と、(b)前記第1のパターン画像信号と前記第1のホール画像信号との論理和を演算して基準画像信号を得る、第1の論理和演算手段と、(c)前記第1のホール画像信号を、前記画素よりも密度の低い画素単位で2値信号を有する拡大ホール画像信号に変換する、画素密度変換手段と、(d)前記基準画像信号を記憶する第1の記憶手段と、(e)前記拡大ホール画像信号を記憶する第2の記憶手段と、(f)前記基準画像信号を前記第1の記憶手段から読み出し、かつ前記拡大ホール画像信号を前記第2の記憶手段から読み出し、これらの前記基準画像信号と前記拡大ホール画像信号との論理積を演算して、禁止領域画像信号を得る論理積演算手段と、(g)前記第2のパターン画像信号と前記第2のホール画像信号との論理和を演算して検査対象画像信号を得る、第2の論理和演算手段と、(h)前記基準画像信号と前記検査対象画像信号との排他的論理和を演算して、差分画像信号を得て、更に当該差分画像信号が表現する画像領域の中で、前記禁止領域画像信号が表現する第1の禁止領域及び前記第2のホール画像信号が表現する第2の禁止領域を除いた領域において、所定の画素数の画素を含むオペレータを包含する部分がある場合に、当該部分を欠陥と判定し、欠陥を示す判定信号を出力する比較検査手段と、を備えるプリント基板の検査装置。
IPC (2件)：
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