特許

J-GLOBAL ID：200903028394202565

測定システム内で複数の試験管を輸送するための方法および装置

発明者： クリストフ ファティンガー ,  レモ アントン ホフシュトラッサー ,  ハンスイェルグ トシルキー
出願人/特許権者： エフ.ホフマン-ラ ロシュ アーゲー
代理人 (4件)： 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  森 徹 ,  吉田 裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-130994
公開番号（公開出願番号）：特開2004-004070
出願日： 2003年05月09日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：

【課題】測定システム内でより短時間かつ比較的低コストで多数の試験管を自動的に輸送させるための方法および装置の提供。【解決手段】複数の区画22を備えた第1の試験管キャリア21を測定装置内の水平の平面内で段階的に移動させ、試験管キャリアの区画22によって保持される試験管11を測定システムに属する測定装置32の受入れ開口31と次々に整合させた後、、垂直の軸(Z)に沿って各試験管を変位させてることにより、試験管を受入れ開口31を介して測定装置内に導入させる。測定終了後は、逆に、試験管11を測定装置内の所定の位置から第1の試験管キャリアまたは第2の試験管キャリアの区画に移動させる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

測定システム内で複数の試験管(11)を輸送するための方法であって、前記試験管が、それぞれ試験管を受けかつ保持するようになった複数の区画(22)を備える試験管キャリア(21)によって搬送され、 (a)前記第1の試験管キャリア(21)の区画(22)を、したがって該区画によって保持される試験管(11)を前記測定システムに属する測定装置(32)の受入れ開口(31)と次々に整合させるために、前記測定システム内で第1の試験管キャリア(21)を移動させることであって、 前記第1の試験管キャリア(21)の移動が段階的に行われ、各移動段階が互いに垂直の2方向(X、Y)のうちの1つにあり、前記第1の試験管キャリア(21)の基部外側表面がそれぞれ前記方向のうちの1つに沿って伸びる2つの軸(X、Y)によって画定される平面内に実質的に位置することと、 (b)複数の試験管を前記第1の試験管キャリア(21)から前記測定装置(32)内の所定の位置へ次々と移動させることであって、前記移動が、第1の方向で前記平面に実質的に垂直の第3の軸(Z)に沿って移動される各試験管の変位を含み、 前記第1の試験管キャリア(21)の区画が、前記試験管の移動のために前記測定装置の受入れ開口(31)と整合され、前記試験管が前記受入れ開口(31)を介して測定装置内に導入されることと、 (c)測定装置(32)内で測定装置に移された試験管内に含まれている試料の測定を行うことと、 (d)前記測定後、前記試験管(11)を測定装置(32)内の所定の位置から第2の試験管キャリア(61)の区画へ移動し、後者の移動が、前記試験管を前記第3の軸(Z)に沿って前記第1の方向と反対の第2の方向に変位することを含む方法。

IPC (2件)：

G01N35/04 ,  G01N37/00

FI (3件)：

G01N35/04 G ,  G01N35/04 H ,  G01N37/00 103

Fターム (6件)：

2G058CA00 ,  2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058CB16 ,  2G058CF12 ,  2G058GA20