特許
J-GLOBAL ID：200903028427901677
流れ式粒子分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-172980
公開番号（公開出願番号）：特開平7-027693
出願日： 1993年07月13日
公開日（公表日）： 1995年01月31日
要約：
【要約】【目的】 構成の簡略化、装置の小型化を実現する流れ式粒子分析装置を提供することである。【構成】 レーザ光源1と、レーザ光源1からのレーザ光が照射されると共に、試料粒子が流されるフローセル2と、フローセル2内の粒子からの側方光を集光する対物レンズ3と、対物レンズ3からの光を波長選別する半透鏡8a,8b,8cと、光を反射する反射鏡8dと、各半透鏡及び反射鏡からの光をそれぞれ検出する検出器6b,6c,6d,6eとを備え、対物レンズ3は色収差を有し、半透鏡8a,8b,8cは、対物レンズ3に近いものほど短波長の光を選別するものである。
請求項（抜粋）：
レーザ光源と、このレーザ光源からのレーザ光が照射されると共に、試料粒子が流される粒子浮遊液流形成手段と、この粒子浮遊液流形成手段内の粒子からの側方光を集光する対物レンズと、対物レンズからの光を波長選別する複数個の半透鏡と、各半透鏡からの光をそれぞれ検出する検出器とを備える粒子分析装置において、前記対物レンズは色収差を有し、前記半透鏡は対物レンズに近いものほど短波長の光を選別するものであることを特徴とする流れ式粒子分析装置。
IPC (2件)：
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