特許

J-GLOBAL ID：200903028446067033

材料の耐久性予測装置および耐久性予測方法

発明者： 唐木 卓哉 ,  熊野 康子
出願人/特許権者： 株式会社フジタ
代理人 (1件)： 野田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-162027
公開番号（公開出願番号）：特開2002-350328
出願日： 2001年05月30日
公開日（公表日）： 2002年12月04日
要約：

【要約】【課題】 材料の耐久性を正確に予想することができる材料の耐久性予測装置および耐久性予測方法を提供する。【解決手段】 耐久性予測装置100は、劣化促進装置10(劣化促進手段)、電子顕微鏡12、エネルギー分散形X線分析装置1206、膜厚測定器14、光沢測定器16、接触角測定器18、色測定器20を備えて構成されている。劣化促進装置10は、観測対象物である、材料から構成される試験体Tの劣化を促進させるものである。劣化促進装置10は、試験体Tの劣化を促進させるための劣化条件が設定可能に構成されている。電子顕微鏡12は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Tに電子線を照射して試験体Tの形状を測定する。エネルギー分散形X線分析装置1206は、試験体Tから出る電子線を検出して試験体Tの組成を分析するように構成されている。

請求項（抜粋）：

耐久性を予測する対象となる材料から構成される試験体の劣化を所定の劣化条件によって促進させる劣化促進手段と、前記劣化促進手段によって劣化が促進された前記試験体の表面を観察するとともに、前記試験体の含有元素の組成を定性定量分析する観察分析手段とを備え、前記所定の劣化条件と、前記観察分析手段による観察結果および定性定量分析結果とに基づいて前記材料の耐久性が予測されるように構成されている、ことを特徴とする材料の耐久性予測装置。

IPC (3件)：

G01N 17/00 ,  G01J 3/50 ,  G01N 23/223

FI (3件)：

G01N 17/00 ,  G01J 3/50 ,  G01N 23/223

Fターム (22件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001NA10 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G020AA08 ,  2G020DA05 ,  2G020DA06 ,  2G020DA31 ,  2G020DA66 ,  2G050BA01 ,  2G050BA02 ,  2G050BA09 ,  2G050CA01 ,  2G050CA03 ,  2G050DA02 ,  2G050EB07 ,  2G050EB10 ,  2G050EC01