特許
J-GLOBAL ID:200903028473077245

材料の孔食深さ測定方法およびその測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 猪股 祥晃
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-018619
公開番号(公開出願番号):特開平10-221028
出願日: 1997年01月31日
公開日(公表日): 1998年08月21日
要約:
【要約】【課題】非接触で金属表面の孔食深さを測定することにより、従来の接触法と比較してレプリカの型取りの出来に左右されず、短時間で労力を低減し、コスト的にも有効となる。【解決手段】ディジタルカメラ7の前面にレンズ6を介して照明装置5を設け、照明装置5により被検体1を照射し、被検体1に生じている孔食2の輪郭部の陰影を生じさせ、この陰影画像をカメラ7で非接触で撮影し、画像データとしてカード型ハードディスク8に取り込むパーソナルコンピュータ9により画像処理し二値化処理して孔食部を抽出し、孔食の面積,外径を計測し、孔食の径と深さの相関関係から深さを算出する。
請求項(抜粋):
被検体に光を照射し、前記被検体に生じている孔食の輪郭部の陰影を生じさせ、この陰影画像をカメラで非接触で撮影し、画像データとして取り込み、画像処理し二値化処理して孔食部を抽出し、前記孔食の面積,外径を計測し、前記孔食の径と深さの相関関係から孔食深さを算出することを特徴とする材料の孔食深さ測定方法。
IPC (3件):
G01B 11/22 ,  G01B 11/08 ,  G01B 11/28
FI (3件):
G01B 11/22 H ,  G01B 11/08 H ,  G01B 11/28 Z

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