特許
J-GLOBAL ID:200903028490638820

低アーク性端子及びその製造方法並びにコネクタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小谷 悦司 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-358810
公開番号(公開出願番号):特開2003-178830
出願日: 2001年11月26日
公開日(公表日): 2003年06月27日
要約:
【要約】【課題】 端子離脱時におけるアークの発生を有効に抑止する。【解決手段】 端子1において、他方の端子2から離脱するときに最後に離れる部位を含む領域の少なくとも外側部分を絶縁体1cで構成し、さらにこの絶縁体1cの表面を当該端子1の他の導体部分と電気的につながる導電層1dで被覆する。そして、この導電層1dと前記他方の端子2とが最後に離れるようにすることにより、その離れた瞬間におけるアークの発生を抑止する。
請求項(抜粋):
他方の端子と嵌合することによって当該端子と通電可能な端子であって、前記他方の端子から離脱するときに最後に離れる部位を含む領域の少なくとも外側部分が絶縁体で構成され、さらにこの絶縁体の表面が端子本体部分と電気的につながる導電層で被覆され、この導電層が前記他方の端子と最後に離れるように構成されている低アーク性端子。
IPC (5件):
H01R 13/04 ,  H01R 13/00 ,  H01R 13/11 ,  H01R 13/53 ,  H01R 43/16
FI (5件):
H01R 13/04 E ,  H01R 13/00 C ,  H01R 13/11 K ,  H01R 13/53 ,  H01R 43/16
Fターム (6件):
5E063GA10 ,  5E087EE02 ,  5E087FF03 ,  5E087FF13 ,  5E087FF21 ,  5E087RR34
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開昭63-116380
審査官引用 (1件)
  • 特開昭63-116380

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