特許

J-GLOBAL ID：200903028501391171

液晶表示パネル基板の検査方法

発明者： フランソア ジェイ・ヘンリィ
出願人/特許権者： フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド ,  石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-242370
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296938
出願日： 1992年09月10日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：

【要約】【目的】 液晶パネル組立前に当該基板における欠陥画素を迅速かつ定量的に把握する検査方法を実現する。【構成】 所定の撮像範囲を有する撮像手段が複数同時に動作して前記電気光学素子の全面を撮像し、この撮像の際には撮像タイミングに従って検査電圧の印加極性および電圧レベルを制御すると共に、前記撮像タイミング毎に取得した前記各撮像手段毎の撮像データを各々記憶する。そして、この記憶された撮像データを個々に読み出して所定の画像処理を施して欠陥画素情報を抽出し、抽出した前記欠陥画素情報を合成して液晶表示パネル基板全体の欠陥状況を表示する。

請求項（抜粋）：

複数の画素から形成される液晶表示パネル基板と、この液晶表示パネル基板の上部に対向配置され、印加される電界強度に応じて光透過率が変化する電気光学素子との間に検査電圧を印加すると共に、前記電気光学素子上へ光を照射し、当該電気光学素子の反射光強度に応じて前記液晶表示パネル基板を検査する検査方法において、所定の撮像範囲を有する撮像手段が複数同時に動作して前記電気光学素子の全面を撮像する撮像過程と、前記撮像過程の撮像タイミングに従って、前記検査電圧の印加極性および電圧レベルを制御すると共に、この撮像タイミング毎に取得した前記各撮像手段毎の撮像データを各々記憶する記憶過程と、この記憶過程で記憶された撮像データを個々に読み出して所定の画像処理を施し、欠陥画素情報を抽出する抽出過程と、前記欠陥画素情報を合成して前記液晶表示パネル基板全体の欠陥状況を表示する表示過程とからなることを特徴とする液晶表示パネル基板の検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01M 11/00 ,  G01N 17/04 ,  G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-142498
  
• 特開昭59-128437
  
• 特開昭63-177274