特許
J-GLOBAL ID:200903028523039722

変位計

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 永井 冬紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-190983
公開番号(公開出願番号):特開平5-010730
出願日: 1991年07月05日
公開日(公表日): 1993年01月19日
要約:
【要約】【目的】 光電変換部の出力を試験片の輝度に左右されることなく一定にする。【構成】 試験片10の輝度に相関する物理量を検出手段120により検出し、この物理量に基づいて走査手段110の蓄積電荷読み出し周期を制御することにより、光電変換手段100の信号電荷蓄積時間を制御し、走査手段110を通して出力される信号レベルを一定にする。
請求項(抜粋):
高温中の試験片の標点部を撮影する光電変換手段と、前記光電変換手段に蓄積された信号電荷を読み出す走査手段とを備え、前記光電変換手段から出力される信号に基づいて試験片の変位量を計測する変位計において、前記試験片の輝度に相関する物理量を検出する検出手段と、前記物理量に基づいて前記走査手段を制御することにより前記光電変換手段の信号電荷蓄積時間を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする変位計。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭60-129603
  • 特開昭48-065853
  • 特開昭49-065853
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