特許
J-GLOBAL ID：200903028591317358
電子部品の測定用治具
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-218605
公開番号（公開出願番号）：特開平6-043199
出願日： 1992年07月24日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：
【要約】【目的】測定用端子との接触時に電子部品に無理な荷重を与えず、割れや欠けを防止するとともに、電子部品の高さバラツキを吸収して接触不良を防止し得る電子部品の測定用治具を提供すること。【構成】治具本体の測定用端子との対向面に凹所を形成し、この凹所の中に電子部品を保持するワーク受け具を遊嵌合し、凹所の内面とワーク受け具の外面との間にゴム状弾性体を介設することにより、ワーク受け具を凹所内に軸方向およびこれと垂直な方向に変位自在に弾性支持してある。
請求項（抜粋）：
電子部品を保持して測定用端子に対し相対的に近接させることにより、電子部品を測定用端子と接触させ、電子部品の電気的特性を測定する測定用治具において、治具本体の測定用端子との対向面に凹所を形成し、この凹所の中に電子部品を保持するワーク受け具を遊嵌合し、凹所の内面とワーク受け具の外面との間にゴム状弾性体を介設することにより、ワーク受け具を凹所内に軸方向およびこれと垂直な方向に変位自在に弾性支持したことを特徴とする電子部品の測定用治具。
IPC (2件)：
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