特許

J-GLOBAL ID：200903028621714845

テストチャート

発明者： 小久保 有二
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-117096
公開番号（公開出願番号）：特開平7-322306
出願日： 1994年05月30日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】 従来のテストチャートを用いて、高精細度テレビジョンの画質評価等の試験を行うことができるテストチャートを提供する。【構成】 チャート周辺部2の中央のチャート部1に描かれたチャートは、周波数特性を与える。上記チャート周辺部2に描かれた少なくとも1つの周波数変換比に対応する第2のアスペクト比を有する画枠21は、周波数変換を行い、少なくとも1つの周波数特性を与える。

請求項（抜粋）：

第1のアスペクト比を有する画枠が描かれたチャート部と、少なくとも1つの周波数変換比に対応する第2のアスペクト比を有する画枠が描かれたチャート周辺部とを備え、上記第1のアスペクト比を有する画枠は、上記第2のアスペクト比を有する画枠の中央に描かれており、上記チャート部には、周波数特性を与えるチャートが描かれていることを特徴とするテストチャート。