特許

J-GLOBAL ID：200903028742380626

寸法測定方法及びその実施に使用する装置

発明者： 平井 達也 ,  西井 久雄
出願人/特許権者： 株式会社椿本チエイン
代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-340436
公開番号（公開出願番号）：特開平11-173817
出願日： 1997年12月10日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：

【要約】【課題】 多くの手間を要することなく、高さが異なる複数の被測定物に係る寸法を迅速・高精度に測定し得る寸法測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 寸法算出部36は、メモリ34から第2関数を読み出し、被測定物Wの平面像の縦寸法及び横寸法に係る座標データを第2関数にそれぞれ代入して補正座標を得、各補正座標間の画素数を算出して、被測定物Wの平面像の縦寸法及び横寸法とする。寸法算出部36は、データ抽出部35から高さ寸法に係るデータが与えられると、前記メモリ34から第1関数を読み出すと共に、両座標間の画素数を算出し、それを第1関数に代入することによって、被測定物Wの高さ寸法を得る。寸法算出部36は該第1距離から被測定物Wの高さ寸法を減算することによって第1撮像装置1から被測定物Wの上部までの間の距離を求め、該距離及び被測定物Wの平面像の縦寸法及び横寸法から、被測定物Wの縦寸法及び横寸法を算出する。

請求項（抜粋）：

被測定物を撮像して得た画像に基づいて、前記被測定物の寸法を測定する方法において、被測定物を第1方向及び該第1方向と略直交する第2方向からそれぞれ撮像して、被測定物の第1像を含む画像及び被測定物の第2像を含む画像を得、第1像から該第1像に表れる被測定物の第1寸法に係る第1データを抽出し、第1像の撮像距離によって定まる第1関数及び前記第1データに基づいて、前記第1寸法を算出し、前記第2像から該第2像に表れる被測定物の第2寸法に係る第2データを抽出する一方、前記第1寸法を用いて前記第2像の撮像距離を算出し、第2像の撮像距離及び前記第2データに基づいて、前記第2寸法を算出することを特徴とする寸法測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (3件)：

G01B 11/02 H ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 350 F