特許

J-GLOBAL ID：200903028750754560

光磁気ディスク検査装置

発明者： 臼井 正幸 ,  山本 信夫
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-168198
公開番号（公開出願番号）：特開平5-342676
出願日： 1992年06月04日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：

【要約】【目的】 短時間で、容易に、光磁気ディスクの欠陥を検査できる小型の光磁気ディスク検査装置を実現する。【構成】 所定の方向に偏光した光束を、磁気的に情報が記録された記録媒体上に照射し、磁気光学効果により前記情報に応じて偏光状態に変調を受けた前記媒体からの反射又は透過光束を、互いに直交する方向に偏光する2つの光束に分割し、該分割された2つの光束を夫々検出手段で検出し、検出された信号の差動出力で光磁気信号を検出する光磁気ディスクの検査装置において、前記光束の通過する光路中に設けられた2つの異なる位相差変化を与える手段10,15と、該手段を介して得られた2つの異なる位相差変化に対応する光磁気信号を演算処理することにより、前記記録媒体内の位相差変動を伴う欠陥を検出する手段とを有することを特徴とする光磁気ディスク検査装置。

請求項（抜粋）：

所定の方向に偏光した光束を、磁気的に情報が記録された記録媒体上に照射し、磁気光学効果により前記情報に応じて偏光状態に変調を受けた前記媒体からの反射又は透過光束を、互いに直交する方向に偏光する2つの光束に分割し、該分割された2つの光束を夫々検出手段で検出し、検出された信号の差動出力で光磁気信号を検出する光磁気ディスクの検査装置において、前記光束の通過する光路中に設けられた2つの異なる位相差変化を与える手段と、該手段を介して得られた2つの異なる位相差変化に対応する光磁気信号を演算処理することにより、前記記録媒体内の位相差変動を伴う欠陥を検出する手段とを有することを特徴とする光磁気ディスク検査装置。