特許
J-GLOBAL ID：200903028766040311
対象物内のきずの検出方法及び位置決め装置並びにディスプレイ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 富士弥 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-298025
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142179
出願日： 1997年10月30日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 複雑な形状寸法と不均一な被加熱表面に使用して対象物内のきずの位置決めと大きさの測定を正確に行うことができ、自動化でき且つ客観的な方法を提供する。【解決手段】 対象物内のきずの位置決めをするシステムは、対象物の表面を加熱するヒータと、加熱された表面上の各々の画素の強度を記録するレコーダと、画素の強度から画素のコントラストを決定する手段と、画素のコントラストに基づいて対象物内のきずの大きさと位置を決定する手段とからなり、連続的なサーマルイメージについて各画素のコントラストを監視し、これらの画素のコントラストを利用して対象物内のきずの位置を決定する。対象物の表面とその下にあるきずは、特定の色を有するきずの深さと相互に関連するカラースペクトルのイメージプリント上に描かれる。
請求項（抜粋）：
解像要素の配列に分割された表面を有する対象物内のきずの検出方法において、対象物の表面を加熱する工程と、加熱された前記表面上の画素に対応する各解像要素の複数のサーマルイメージを所定時間にわたって記録する工程と、前記サーマルイメージの各々における前記画素の各々の画素について個々の画素の強度を決定する工程と、各サーマルイメージについて平均画素強度を決定する工程と、前記個々の画素の強度から前記平均画素強度を差し引くことによって前記サーマルイメージの各々における前記画素の各々についての画素のコントラストを得る工程と、前記画素のコントラストに基づいて前記対象物内のきずの深さを決定する工程とを有する方法。
引用特許：
引用文献：
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