特許

J-GLOBAL ID：200903028793233121

像担持体寿命検知方法、画像形成装置、及びプロセスカートリッジ

発明者： 緒方 寛明
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 倉橋 暎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-184527
公開番号（公開出願番号）：特開平11-015340
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】 帯電手段としてAC電圧とDC電圧を併用し、画像形成中に、複数の動作速度と複数の帯電条件を備えた接触帯電を用いたプロセスカートリッジにおいて、感光ドラムの正確な寿命検知を行なう。【解決手段】 動作速度Vm(m≧2)下でとバイアス印加条件n(n≧1)に基づき一次帯電器2に印加されている時間tmnを検出し、検出された時間tmnと、係数kmnを用いて像担持体のダメージ指数DをD=k11×t11+k21×t21・・・kmnの式から演算し、像担持体のダメージ指数Dを積算し、積算された積算値Sと予め定めておいた寿命情報Rとを比較し、この比較結果に基づき、積算された像担持体ダメージ積算値Sが予め定めておいた像担持体の寿命情報Rより大きい場合には、像担持体の寿命をユーザに警告あるいは表示する。

請求項（抜粋）：

少なくとも像担持体と、電圧を印加され前記像担持体に接触した帯電手段とを有する画像形成装置における像担持体寿命検知方法において、前記印加電圧はDCバイアス成分とACバイアス成分を含み、且つ画像形成動作中において、m種類(m≧2)の動作速度Vmと、n種類(n≧1)のバイアス印加条件とを持ち、前記動作速度Vm下で前記バイアス印加条件nに基づき前記帯電手段にバイアスが印加されている時間tmnを検出し、検出された時間tmnと予め決められた係数kmnを用いて、前記像担持体のダメージ指数Dを、D=k11×t11+k21×t21+・・・+kmn×tmn(但し、k11>0、k21・・・kmn≧0)の式に基づき演算し、得られた前記ダメージ指数Dを積算し、積算された積算値Sと予め定めておいた前記像担持体の寿命とする寿命情報Rとを比較することにより前記像担持体の寿命を判断することを特徴とする像担持体寿命検知方法。

IPC (3件)：

G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 21/18

FI (3件)：

G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 15/00 556

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-078248   出願人：株式会社リコー