特許

J-GLOBAL ID：200903028794802251

フロー式粒子画像解析方法及び装置

発明者： 堀内 秀之
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-250615
公開番号（公開出願番号）：特開2002-062251
出願日： 2000年08月22日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：

【要約】【課題】フローセル中のサンプルの実際の流れ形状を観察することが可能なフロー式粒子画像解析装置を実現する。【解決手段】画像撮像手段101の焦点位置を基準とした位置と、サンルプル流れにおけるサイズの揃った標準粒子のレベル分散Cvとの関係に基づいて、サンプル流れの傾き等の流れ形状を検出する。標準粒子をフローセル100に流しレーザ光束14により粒子の通過を検出し、それに基づいてフラッシュランプ1を発光して粒子の静止画像をTVカメラ8で撮像し画像処理する。粒子画像の特徴パラメータにおいて顕微鏡光軸方向のサンプル流れ形状を流れ形状抽出部53にて推定する。また、粒子画像のレベル分散情報と粒子観測位置情報の2次元散布図を表示部50にて表示して、サンプル流れの形状、傾きおよびサンプル流れ厚さ等の情報を得る。

請求項（抜粋）：

粒子を懸濁した液体サンプルをフローセル中に流し、このフローセル中の撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により撮像する撮像段階と、画像解析により上記静止画像中の粒子の形態学的分類を行う解析段階とを有するフロー式粒子画像解析方法において、サイズの揃った標準粒子を測定サンプルとして使用する段階と、上記測定サンプルを用いて測定された粒子画像からサンプル流れの光軸位置情報を表す粒子画像特徴パラメータを抽出する段階と、測定された複数の粒子データから上記粒子画像特徴パラメータを使ってサンプル流れの形状情報を得る段階と、を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。

IPC (4件)：

G01N 15/14 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/49 ,  G01N 33/493

FI (5件)：

G01N 15/14 K ,  G01N 15/14 C ,  G01N 33/483 C ,  G01N 33/49 H ,  G01N 33/493 A

Fターム (15件)：

2G045AA02 ,  2G045AA15 ,  2G045AA18 ,  2G045CA25 ,  2G045CB03 ,  2G045FA11 ,  2G045FA19 ,  2G045FA37 ,  2G045GA01 ,  2G045GB01 ,  2G045GB06 ,  2G045JA01 ,  2G045JA02 ,  2G045JA03 ,  2G045JA07