特許
J-GLOBAL ID:200903028798366014

超音波探傷による欠陥種類判別方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 永井 義久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-332101
公開番号(公開出願番号):特開平9-171005
出願日: 1995年12月20日
公開日(公表日): 1997年06月30日
要約:
【要約】【課題】欠陥の形状、存在位置および大きさのばらつきによる影響を排除し、精度良く、介在物と気泡との判別を行う。【解決手段】超音波探傷により被検査材3の内部に存在する欠陥を検出し、この欠陥の種類を判別する方法において、探触子1によって検出される、欠陥エコー波形より得られるパラメーター(欠陥エコーの位相、周波数、強度)と、欠陥近傍の底面反射エコーBの波形より得られるパラメーター(底面エコー強度、欠陥面積)とに基づいて欠陥の種類を介在物と気泡とに判別する。
請求項(抜粋):
超音波探傷により被検査材内部に存在する欠陥を検出し、この欠陥の種類を判別する方法において、欠陥エコー波形より得られるパラメーターおよび欠陥近傍の底面エコー波形より得られるパラメーターを基に、欠陥の種類を判別することを特徴とする超音波探傷による欠陥種類判別方法。
IPC (2件):
G01N 29/10 501 ,  G01N 29/22 501
FI (2件):
G01N 29/10 501 ,  G01N 29/22 501

前のページに戻る