特許

J-GLOBAL ID：200903028867542270

有機発光ダイオードの修復方法

発明者： 岸本 良雄
出願人/特許権者： 松下電子工業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-322607
公開番号（公開出願番号）：特開平11-162637
出願日： 1997年11月25日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】 有機発光ダイオードにおいて、短絡等の修復作用を引き出し、輝度を安定化させ、かつ素子寿命に優れた修復方法を提供する。【解決手段】 正孔注入用透明電極1とAl系金属の電子注入用薄膜電極5よりなる電極間に、正孔輸送層3と電子輸送層4とが積層された有機発光ダイオードに、パルス電源6より駆動のための順方向パルス電圧を印加しながら、逆方向パルスを時々印加し、Al系金属の電子注入用薄膜電極5の短絡箇所に陽極酸化によりアルミナ皮膜を形成させて絶縁修復させる。これにより、リーク電流を無くし、輝度の経時変化を小さくして素子寿命を大幅に延ばした。

請求項（抜粋）：

基板上に形成された正孔注入用透明電極と、Al系金属の電子注入用薄膜電極よりなる一対の電極間に、少なくとも正孔輸送性有機分子からなる正孔輸送層と電子輸送性有機分子からなる電子輸送層とが順次形成された有機発光ダイオードに、順方向パルス動作電圧または順方向直流動作電圧を印加して前記有機発光ダイオードを発光させながら、かつ逆方向パルス電圧を動作中に時々加え、前記Al系金属の電子注入用薄膜電極の短絡箇所に陽極酸化でアルミナ皮膜を形成させて前記短絡箇所を絶縁修復させることを特徴とする有機発光ダイオードの修復方法。

IPC (3件)：

H05B 33/08 ,  H05B 33/14 ,  H05B 33/26

FI (3件)：

H05B 33/08 ,  H05B 33/14 A ,  H05B 33/26 Z