特許

J-GLOBAL ID：200903028894594966

高次回帰分析自動傾向線作成システム

発明者： 大山 晃弘 ,  元山 厚 ,  橋本 聡 ,  廣井 篤
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-239174
公開番号（公開出願番号）：特開2001-067341
出願日： 1999年08月26日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：

【要約】【課題】本発明の課題は従来の高次回帰分析の一次式等で表示された図形式の散布図でのプロッタが、どのような分析項目であるかは表形式を見ないと判断出来ないため一度表形式に戻る手間が掛っている。また一次式等の上部に出る異常値にの削除に関しても同様に、表形式の分析項目を削除する事により、グラフのプロッタの削除を行う。また、プロッタをグラフ上で移動する事が出来ない等、表形式とグラフ形式の両方を見ないと判断出来ない課題がある。【解決手段】本システムは従来表形式とグラフ形式の両方を見なければ判断出来なかった各種の課題をグラフ形式で行える様にするものである。

請求項（抜粋）：

購入品等の原価低減を行ったり、2っの分析項目の相対関係を調査する高次解析分析で、表とグラフの散布図を活用し分析をする技法に於いて、その分析する分析品目を表形式で、その分析品目に関連する2つの分析項目(X値、Y値)の関連数字を縦軸に入力し、その入力データを元に、その2つの分析項目(X値、Y値)の関連を、グラフの散布図のX軸、Y軸の関連でプロットで表現し、すべての分析項目のプロット表示が完了した段階で、その平均をY=a1X+a2X2+......+anXn+Cの計算式で、一次式からn次式の何通りかの直線、曲線をセレクトし傾向線を表示し、次にその線から上の異常値をクリックする事により、その分析項目の取り消しが出来、取消した分析項目以外の関連数字で、新しくその平均をY=a1X+a2X2+......+anXn+Cの計算式で傾向線を引く高次回帰分析自動傾向線作成システム。

Fターム (4件)：

5B056AA00 ,  5B056BB66 ,  5B056BB95 ,  5B056HH01