電子部品の特性検査方法及びその特性検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-008576
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206179
出願日： 1999年01月18日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】本来の特性検査に先立ち、特性検査装置の測定端子と被検査電子部品のリード線との接触抵抗を検査できるようにするとともに、両者の接触状態を良好にして本来の特性検査を行えるようにする。【解決手段】最初に接触抵抗を検査する電流を、10〜30Aの範囲で決定し、その電流を流す。これによりリード線1a,1bと測定端子S1,S2,S3及びS4との接触面の汚れを除去し、良好な接触状態で本来の特性試験を行う。

請求項（抜粋）：

リード型電子部品のリード線に検査装置の測定端子を接触させ、電圧を印加若しくは電流を流して該電子部品の特性を検査する電子部品の特性検査方法において、前記検査装置の測定端子と前記電子部品のリード線間に所定の電流を流し、前記測定端子と電子部品のリード線間の接触抵抗を小さくしてから特性検査のための電圧を印加し、若しくは電流を流して前記電子部品の特性を検査することを特徴とする電子部品の特性検査方法。

Fターム (6件)：

2G003AA04 , 2G003AE01 , 2G003AE08 , 2G003AE09 , 2G003AG12 , 2G003AG13

引用特許：

審査官引用 (1件)

特開平3-229163

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