特許

J-GLOBAL ID：200903029033019169

OTDRによる計測方法

発明者： 井ノ口 一成 ,  手塚 浩一 ,  前川 俊哉 ,  長棟 章生
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-012566
公開番号（公開出願番号）：特開平7-218352
出願日： 1994年02月04日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：

【要約】【目的】 構成機器の制約が少なく、安価で高精度に計測することを可能にしたOTDRによる計測方法。【構成】 被測定領域に敷設された光導波部に疑似ランダム信号により変調された光信号を入射する工程と、光導波部に発生する散乱光を受光する工程と、受光された散乱光を電気信号に変換する工程と、その電気信号に基づき疑似ランダム信号の自己相関関数を求める工程とを有し、その自己相関関数に基いて光導波部に発生する後方散乱光の位置及び強度を求めるOTDRによる計測方法において、各工程における信号の周波数帯域を、疑似ランダム信号の最小パルス幅l/f(sec)に対して、0.001f(Hz)〜f(Hz)とする。

請求項（抜粋）：

被測定領域に敷設された光導波部に疑似ランダム信号により変調された光信号を入射する工程と、前記光導波部に発生する散乱光を受光する工程と、前記受光された散乱光を電気信号に変換する工程と、前記電気信号に基づき疑似ランダム信号の自己相関関数を求める工程とを有し、前記自己相関関数に基いて光導波部に発生する後方散乱光の位置及び強度を求めるOTDRによる計測方法において、前記各工程における信号の周波数帯域を、前記疑似ランダム信号の最小パルス幅l/f(sec)に対して、0.001f(Hz)〜f(Hz)とすることを特徴とするOTDRによる計測方法。

IPC (2件)：

G01K 11/12 ,  G01M 11/00