特許
J-GLOBAL ID:200903029033291438
走査型プローブ顕微鏡
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹本 松司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-144886
公開番号(公開出願番号):特開2000-338028
出願日: 1999年05月25日
公開日(公表日): 2000年12月08日
要約:
【要約】【課題】 Z方向のフィードバック制御の応答速度を高め、また、XY方向の走査に伴うレーザー光の照射位置の変動を防止する。【解決手段】 試料Sと対向配置するプローブ3と、Z方向に駆動するZ方向スキャナー5と、XY方向に走査するXY方向スキャナー4と、プローブの変位を検出する測定ヘッド3とを備え、プローブ3をZ方向スキャナー5に取り付け、測定ヘッド2が備えるレーザー発光部21をZ方向スキャナー5とXY方向スキャナー4との間に配置する構成とし、プローブ3のみをZ方向に駆動することによってZ方向のフィードバック制御の応答速度を高め、また、プローブ3上のレーザー光の照射位置をXY方向の走査と無関係とすることによって誤検出を防止する。
請求項(抜粋):
試料と対向配置するプローブと、Z方向に駆動するZ方向スキャナーと、XY方向に走査するXY方向スキャナーと、プローブの変位を検出する測定ヘッドとを備える走査型プローブ顕微鏡であって、前記プローブをZ方向スキャナーに取り付け、測定ヘッドが備えるレーザー発光部をZ方向スキャナーとXY方向スキャナーとの間に配置し、Z方向スキャナーはプローブのみをZ方向にフィードバック制御し、XY方向スキャナーはレーザー発光部とZ方向スキャナーを一体としてXY方向に走査する、走査型プローブ顕微鏡。
IPC (4件):
G01N 13/16
, G01N 37/00
, G01B 7/34
, G01B 21/30
FI (4件):
G01N 37/00 F
, G01N 37/00 A
, G01B 7/34 Z
, G01B 21/30 Z
Fターム (27件):
2F063AA04
, 2F063AA43
, 2F063CA12
, 2F063DA01
, 2F063DA04
, 2F063DB01
, 2F063DB06
, 2F063EA16
, 2F063EA20
, 2F063EB15
, 2F063EB23
, 2F063FA07
, 2F063ZA01
, 2F069AA04
, 2F069AA06
, 2F069AA60
, 2F069DD15
, 2F069GG04
, 2F069GG06
, 2F069GG07
, 2F069GG52
, 2F069GG62
, 2F069HH05
, 2F069JJ08
, 2F069LL03
, 2F069MM04
, 2F069MM32
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
走査型プローブ顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-073923
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
微動機構
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-027522
出願人:セイコーインスツルメンツ株式会社
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