特許
J-GLOBAL ID:200903029058192485
X線マスクおよびその製造方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-357084
公開番号(公開出願番号):特開2006-163177
出願日: 2004年12月09日
公開日(公表日): 2006年06月22日
要約:
【課題】 大面積の窓領域を有する、製造効率の高いX線マスクを提供する。【解決手段】 本発明のX線マスクは、X線リソグラフィにおいてレジストにパターンを転写するマスクであり、X線透過部と、X線透過部により保持されるX線吸収体とを備える。このX線透過部を構成するX線透過膜は、Al、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、NiもしくはCuのうち少なくとも1つの金属、または、その金属化合物により構成される層を有することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
X線リソグラフィにおいてレジストにパターンを転写するマスクであって、X線透過部と、該X線透過部により保持されるX線吸収体とを備え、前記X線透過部を構成するX線透過膜は、Al、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、NiもしくはCuのうち少なくとも1つの金属、または、その金属化合物により構成される層を有することを特徴とするX線マスク。
IPC (3件):
G03F 7/20
, G03F 1/16
, H01L 21/027
FI (3件):
G03F7/20 503
, G03F1/16 A
, H01L21/30 531M
Fターム (7件):
2H095BA12
, 2H095BC27
, 2H097CA15
, 2H097JA02
, 2H097LA15
, 5F046GA02
, 5F046GD03
前のページに戻る