特許

J-GLOBAL ID：200903029146879539

腐食検出装置

発明者： 瓦井 久勝
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (4件)： 高橋 省吾 ,  稲葉 忠彦 ,  村上 加奈子 ,  中鶴 一隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-021143
公開番号（公開出願番号）：特開2005-214766
出願日： 2004年01月29日
公開日（公表日）： 2005年08月11日
要約：

【課題】シリコーン系樹脂の保護コーティングが施された印刷回路基板を用いた電気機器であっても、その故障を事前に検出できる腐食検出装置を得る。【解決手段】腐食検出装置を、絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に設けられたテストチップと、上記絶縁性基板の表面に設けられ、且つ上記テストチップの異常を検出する検出部とで構成し、上記テストチップを、絶縁板と、この絶縁板表面に設けられた、複数の金属が直列に接続された細線パターンと、上記テストチップの少なくとも上記細線パターンが設けられた面を被覆する調湿剤を含有するシリコーン樹脂の塗膜とからなるものとする。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

シリコーン樹脂がコーティングされた印刷回路基板の腐食を検出する腐食検出装置であって、 絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に設けられたテストチップと、上記絶縁性基板の表面に設けられ、且つ上記テストチップの異常を検出する検出部とを備えており、 上記テストチップが、絶縁板と、この絶縁板表面に設けられた、複数の金属が直列に接続された細線パターンと、上記テストチップの少なくとも上記細線パターンが設けられた面を被覆する調湿剤を含有するシリコーン樹脂の塗膜とからなることを特徴とする腐食検出装置。

IPC (2件)：

G01N17/00 ,  G01N27/04

FI (2件)：

G01N17/00 ,  G01N27/04 Z

Fターム (23件)：

2G050AA01 ,  2G050BA04 ,  2G050BA05 ,  2G050BA06 ,  2G050BA10 ,  2G050CA01 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EA02 ,  2G050EB02 ,  2G050EC06 ,  2G060AA01 ,  2G060AD04 ,  2G060AE28 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060AG10 ,  2G060GA03 ,  2G060HC09 ,  2G060HC10 ,  2G060HD03 ,  2G060HD08 ,  2G060KA09

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開平3-158748号公報(第2頁、第1図)
  
• 電気機器用環境診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-109635   出願人：三菱電機株式会社