超音波試験方法及び超音波試験装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：北村光司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-220719
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051912
出願日： 1997年07月31日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：

【要約】【課題】試験体の裏面側から進行する材質変化の試験体厚さ方向に対する分布を試験体の表面側から評価することの可能な超音波試験方法とこれに用いる試験装置を提供する。【解決手段】送信子21から試験体100の表面101を介して入射する超音波の送信側中心軸Xと、この超音波に起因して試験体100内で発生する後方散乱波を表面101側から受信する受信子22の受信側中心軸Yとを交差させて送信子21と受信子22とを配置する。受信子22の受信部22c,22dを表面101に起因する超音波の鏡面反射波の中心軸Z外に位置させ、鏡面反射波の影響を受信波から除去する。各受信時間における後方散乱波の特徴量により試験体100の裏面102側における各深さ部分の状態を評価する。

請求項（抜粋）：

送信子(21)から試験体(100)の表面(101)を介して入射する超音波の送信側中心軸(X)と、この超音波に起因して試験体(100)内で発生する後方散乱波を前記表面(101)側から受信する受信子(22)の受信側中心軸(Y)とを交差させて前記送信子(21)と前記受信子(22)とを配置し、前記受信子(22)の受信部(22c,22d)を前記表面(101)に起因する前記超音波の鏡面反射波の中心軸(Z)外に位置させると共に、各受信時間における前記後方散乱波の特徴量により前記試験体(100)の裏面(102)側における各深さ部分の状態を評価する超音波試験方法。

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