特許

J-GLOBAL ID：200903029157956829

ガラスの欠陥を検出する方法

発明者： 井上 修一郎
出願人/特許権者： 学校法人日本大学
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-393662
公開番号（公開出願番号）：特開2003-194736
出願日： 2001年12月26日
公開日（公表日）： 2003年07月09日
要約：

【要約】【課題】 カバーガラスの欠陥の存在を正確に捉え、カバーガラスの欠陥検査を可能にすること。【解決手段】 ファブリペロー共振器内にガラスを挿入して透過光強度を検出し、透過光強度の変化からガラスの欠陥の存在を読み取ることを特徴とするガラスの欠陥の存在を検出する方法。

請求項（抜粋）：

ファブリペロー共振器内にガラスを挿入して透過光強度を検出し、透過光強度の変化からガラスの欠陥の存在を読み取ることを特徴とする、ガラスの欠陥を検出する方法。

IPC (3件)：

G01N 21/958 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1333 500

FI (3件)：

G01N 21/958 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1333 500

Fターム (10件)：

2G051AA42 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BA10 ,  2G051CB02 ,  2H088FA11 ,  2H088HA01 ,  2H088MA20 ,  2H090JB02 ,  2H090JC18