特許
J-GLOBAL ID：200903029208910462
堆積状態にある粉粒体層の自由表面の傾斜角度の測定方法及び測定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-168286
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014331
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：
【要約】【課題】 堆積状態にある粉粒体層の自由表面の傾斜角度の測定において、測定者固有のくせによって生じる測定値のばらつきを無くすとともに測定に要する手間と時間を低減する。【解決手段】 水平面上に円錐状に堆積した粉粒体層Pの側方に、光線を射出し該光線が照射された点との距離を検出するセンサ16を、光線の射出口が粉粒体層の自由表面に対向するとともに光線の光軸が水平になるように配置し、センサを光軸に直交する水平方向に移動させて自由表面上にセンサの移動経路に対向する線に沿って線状に並んだ複数個の点との距離を検出する工程をセンサを垂直方向に所定距離ずつ移動させて複数回行い、各工程における記センサとの距離が最小の点を抽出し、これらの点からなる軌跡に近似する直線の関数を最小二乗法によって求め、該直線の水平面に対する傾斜角度を算出することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
水平面上に円錐状に堆積した粉粒体層の側方に、光線を射出し該光線が照射された点との距離を検出するセンサを、前記光線の射出口が前記粉粒体層の自由表面に対向するとともに前記光線の光軸が水平になるように配置し、前記センサを前記光軸に直交する水平方向に移動させて前記自由表面上に前記センサの移動経路に対向する線に沿って水平方向の一端側から他端側にかけて線状に並んだ複数個の点との距離を検出する工程を前記センサを垂直方向に所定距離ずつ移動させて複数回行い、前記各工程における前記センサとの距離が最小の点を抽出し、これらの点からなる軌跡に近似する直線の関数を最小二乗法によって求め、該直線の水平面に対する傾斜角度を算出することを特徴とする堆積状態にある粉粒体層の自由表面の傾斜角度の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/26 Z
, G01C 9/06 A
