特許
J-GLOBAL ID:200903029250178437
光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
谷 義一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-001047
公開番号(公開出願番号):特開2001-194267
出願日: 2000年01月06日
公開日(公表日): 2001年07月19日
要約:
【要約】【課題】 被測定信号のビットレート、信号形式および変調形式によらずに単一の回路で雑音劣化や波形歪みなどの光信号品質劣化を監視でき、品質評価精度を向上させる。【解決手段】 ヒストグラム評価部と分布関数評価部と信号品質評価部を有する。ヒストグラム評価部1504は、サンプリングオシロスコープ1502で得られる信号強度分布から振幅ヒストグラムを求める。分布関数評価部1505は、強度しきい値Aよりも高い振幅ヒストグラム部分からレベル1に相当する振幅ヒストグラム分布関数g1を推定し、強度しきい値Bよりも低い部分からレベル0に相当する振幅ヒストグラム分布関数g0を推定する。光信号品質評価部1506は、レベル1とレベル0のそれぞれの平均値強度と標準偏差値を、関数g1及びg0からそれぞれ求め、それぞれの平均値強度の差と、それぞれの標準偏差値の和との比として得られる信号対雑音比係数を評価する。
請求項(抜粋):
ビットレートf0(bit/s) を有する光信号を電気強度変調信号に変換するステップと、クロック周波数f1(Hz)(f1=(N/M)f0+a、aはオフセット周波数、N,Mは正の整数)で前記電気強度変調信号強度をサンプリングすることによって光信号の強度分布を測定するステップと、ある平均時間内の前記光信号の強度分布から振幅ヒストグラムを求めるステップと、あらかじめ定めた強度しきい値(A)よりも高い前記振幅ヒストグラム部分から「レベル1」に相当する振幅ヒストグラム分布関数g1を推定し、別途定めた強度しきい値(B)よりも低い前記振幅ヒストグラム部分から「レベル0」に相当する振幅ヒストグラム分布関数g0を推定するステップと、「レベル1」と「レベル0」のそれぞれの平均値強度と標準偏差値を前記振幅ヒストグラム分布関数g1及びg0からそれぞれ求め、「レベル1」と「レベル0」のそれぞれの平均値強度の差と、「レベル1」と「レベル0」のそれぞれの標準偏差値の和の比として得られる信号対雑音比係数を評価するステップとを有することを特徴とする光信号品質評価方法。
IPC (3件):
G01M 11/02
, G01J 11/00
, H04B 10/08
FI (3件):
G01M 11/02 J
, G01J 11/00
, H04B 9/00 K
Fターム (11件):
2G065AA20
, 2G065AB16
, 2G065BA09
, 2G065BC33
, 2G065BC40
, 2G065DA13
, 2G086KK07
, 5K002DA05
, 5K002EA05
, 5K002EA06
, 5K002FA01
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
光信号品質モニタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-229659
出願人:日本電信電話株式会社
-
特開昭63-025521
前のページに戻る