特許
J-GLOBAL ID：200903029255931125

校正機能付きプロセス計装ラック

発明者：
鍵福 辰緒

鍵福 辰緒 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-045659
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253812
出願日： 1994年03月16日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：
【要約】【目的】保守,調整員の負担を軽減し、高精度な校正試験を可能にすることを目的とする。【構成】プロセス計装ラックにおいて、被校正計器3に加える基準量を発生させる基準量発生手段6と、測定レンジが調整可能であり調整された測定レンジにて前記基準プロセス量を測定する基準器8と、基準器8の測定レンジを被校正計器3の測定レンジに合わせるレンジ調整手段9と、被校正計器3による基準量の測定値と基準器8による基準量の測定値とを比較して前記被校正計器3の校正量を算出する校正手段9とを具備する。
請求項（抜粋）：
プロセス量を測定する複数の計器が集約配置されたプロセス計装ラックにおいて、前記計器のうち校正試験対象となる被校正計器に加える基準物理量を発生させる基準量発生手段と、測定レンジが調整可能であり調整された測定レンジにて前記基準物理量を測定する基準器と、前記基準器の測定レンジを前記被校正計器の測定レンジに合わせるレンジ調整手段と、前記被校正計測器による前記基準物理量の測定値と前記基準器による前記基準物理量の測定値とを比較して前記被校正計測器の校正量を算出する校正手段とを具備したことを特徴とする校正機能付きプロセス計装ラック。
引用特許：
審査官引用 (3件)

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