特許
J-GLOBAL ID：200903029256689735
レアショート・テスタ
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-319512
公開番号（公開出願番号）：特開平8-160093
出願日： 1994年11月30日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：
【要約】【目的】 レアショート・テスタ。【構成】 被測定コイルと電磁的に結合された励磁コイルにパルス電流を流し、このパルス磁界によって被測定コイルのレアショートした部分に誘導電流を流し、レアショートを起こした被測定コイルの等価時定数よりも大幅に少ない立ち下がり時間で励磁電流を遮断し、励磁コイルに流れた電流が十分に減衰してから被測定コイル近傍の磁束を測定し、レアショートしたコイルから発生する磁界を選択的に検出してレアショートを検出するテスタ。
請求項（抜粋）：
被測定コイルと電気的または電磁的に結合された励磁コイルにパルス電流を流し、相互インダクタンスを介して被測定コイルのレアショートしたループに誘導電流を流し、レアショートを起こした被測定コイルの等価時定数よりも大幅に少ない立ち下がり時間で励磁電流を遮断し、励磁コイルに流れる電流が十分に減衰し、さらに励磁コイルと被測定コイルのインダクタンスとその分布容量による過渡現象がおさまってから被測定コイル近傍の磁束を測定し、レアショートしたコイルから発生する磁界の強度を検出してレアショートを検出するレアショート・テスタ。
IPC (2件)：
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