特許

J-GLOBAL ID：200903029268029331

電子部品の位置ズレ検査方法

発明者： 荒川 智広 ,  足立 裕 ,  北山 綱次
出願人/特許権者： トヨタ車体株式会社 ,  株式会社豊田中央研究所
代理人 (1件)： 守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-342786
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170229
出願日： 1996年12月07日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 高輝度の電極部を有する表面実装型電子部品に対して、その位置ズレを確実に判定する。【解決手段】 プリント基板2上のチップ抵抗1取付部を含む一定領域を撮像し、撮像された画面F内にチップ抵抗1の両端電極部11,12と直交する方向へ延びる検査ウインドウDW を設定する。検査ウインドウDW をその設定方向と直交する方向へ逐次移動させつつ、各移動位置DW1, Dw2にて輝度が所定値以上を示す検査ウインドウDW 内の画素の割合を算出し、当該割合が所定値以上を示した検査ウインドウDW の移動範囲の両端位置c,dに基づいてチップ抵抗1の幅方向Wの位置ズレを判定する。

請求項（抜粋）：

基板上の電子部品取付部を含む一定領域を撮像するステップと、撮像された画面内に電子部品の電極部を横切る方向へ延びる検査ウインドウを設定するステップと、検査ウインドウをその設定方向と直交する方向へ逐次移動させつつ、各移動位置にて輝度が所定値以上を示す検査ウインドウ内の画素数を算出し、当該画素数が所定数以上を示した検査ウインドウの移動範囲の両端位置に基づいて電子部品の位置ズレを判定するステップとを具備する電子部品の位置ズレ検査方法。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G06T 7/00 ,  H05K 13/08

FI (3件)：

G01B 11/00 H ,  H05K 13/08 Q ,  G06F 15/62 405 C

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 電子部品の実装位置ずれ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-303685   出願人：日立電子株式会社
• 特開平4-318681