特許

J-GLOBAL ID：200903029304370568

検査データ作成方法及び装置及びこれを用いた部品実装基板外観検査装置

発明者： 山村 久恵 ,  本田 敏文 ,  高木 裕治 ,  宮脇 義雄 ,  堀井 智晴
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-118641
公開番号（公開出願番号）：特開平11-311508
出願日： 1998年04月28日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：

【要約】【課題】 新規部品のデータを自動的に部品ライブラリデータに追加できるようにして、部品実装基板の検査データ作成時間を短縮可能とする。【解決手段】 入力手段1により検査対象の新規部品の部品形状情報Aを入力し、検査パラメータ算出手段3において、記憶手段2に記憶された検査パラメータ算出方法Bに従って、この部品形状情報Aから検査パラメータCを算出する。そして、入力した部品形状情報Aとこれから算出した検査パラメータCとを対応付けて、例えば、記憶手段2に部品ライブラリデータとして記憶する。検査装置に接続して部品を検査するときには、検査対象部品に対する検査パラメータを読み取り、これに基づいてはんだ付け状態などの欠陥の判定など行なう。部品形状情報Aとしては、部品情報のデータベースなどから読み取ることができる。

請求項（抜粋）：

検査対象部品の3次元形状あるいは2次元形状を表わす特徴量を抽出し、抽出した該特徴量を検査パラメータと比較することにより、該検査対象部品の実装状態あるいははんだ付状態の良否を検査する部品実装基板外観検査装置の検査データ作成方法であって、該検査対象部品の部品形状情報を入力し、予め記憶装置に記憶された該検査パラメータ算出方法に従って、該部品形状情報から該検査パラメータを算出することを特徴とする検査データ作成方法。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88

FI (3件)：

G01B 11/24 C ,  G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 F

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 検査実行データ出力装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-119089   出願人：オムロン株式会社
• 検査用プログラムデータ作成方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-258986   出願人：日立電子株式会社
• 教示データ作成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-214358   出願人：オムロン株式会社
• 特開平3-148051